多功能光电化学测试系统

2019-01-03 admin


型号:ModuLab XM PhotoEchem IPCE

 

特点:

1、频域和时域的测试技术,包括:IMPS,IMVS,阻抗,光电压衰减,电量抽取和I-V曲线和IPCE测量;

2、对有效扩散系数的计算和电子寿命的“自动”数据分析的“一键式”操作,适合于对频域测试技术比较陌生的使用者;

3、带有NIST(美国国家标准与技术研究院测试标准)可追溯校准文件的光源,并且日常可以对其进行校验检查;

4、长期稳定的卓越热效管理的光源,提供一系列的高亮度单色LED光源;

5、软件包含全套电化学测试技术,包括:循环伏安(C-V),恒电压-电流测试,系列的阻抗测试方法以及交流伏安法;

6、辅助分压功能可用于同时检测阳极和阴极的阻抗和电压;

7、Solartron Analytical的频率响应分析(FRA)技术,包含单波,频率扫描和多波技术;

完美兼容ModuLab 和 ModuLab XM全部功能

 

不仅是一个光电化学测试体系

 

Modulab XM PhotoEchem集合了功能强大的ModuLab频率响应分析(FRA)和恒电位仪技术。现有Modulab 系统通过配备选项卡和光学工作台即可升级为Modulab XM PhotoEchem。

 

丰富的实验程序包:

为光电化学测试系统专门研发设计的专用软件套装,包括:

1、强度调制光电流谱(IMPS)

2、强度调制光电压谱(IMVS)

3、阻抗谱

4、I-V曲线

5、电量抽取

6、短路电量抽取

7、暗室电量抽取

8、光电压衰减

9、光电转化效率(IPCE)

 

控制光学平台进行以上测试技术可以使研究人员开发出更多光电研究的测试技术。

 

创新点: 

英国Bath大学物理化学Laurie Peter教授为技术顾问,以英国输力强公司最新电化学系统-Modulab为平台 包括:IPCE,IMPS,IMVS,阻抗,光电压衰减,电量抽取和I-V曲线测试等多种光电测试技术 对海量数据的分析实现“一键式”操作,方便且准确得到分析结果 采用FRA进行小信号测试,并标配白光偏置,利用FRA的偏置抑制技术。 带有NIST(美国国家标准与技术研究院测试标准)可追溯校准文件的光源,可在日常方便进行校验检查。